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ic成品测试详细分类
发布时间：2018-12-19 18:25:11
IC测试一般分为物理性外观测试（Visual Inspecting Test），IC功能测试（Functional Test）,化学腐蚀开盖测试（De-Capsulation），可焊性测试（Solderbili ty Test），直流参数（电性能）测试（Electrical Test）, 不损伤内部连线测试（X-Ray），放射线物质环保标准测试（Rohs）以及失效分析（FA）验证测试。
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